采用相干红外光源的LayerWatcher INTRAVIS在K 2016上展示了其最新开发成果LayerWatcher。该系统采用相干红外光源进行测量，可以精确测量型坯中层的位置和厚度。LayerWatcher不是仅在一个点处测量厚度，而是以其极高...